Apresenta-se um estudo acerca das principais características da técnica de medição de frequência instantânea de micro-ondas denominada IFM (Instantaneous Frequency Measurement), no domínio óptico, contemplando ainda uma simulação em Mathcad com dispositivos comerciais. Tal técnica tem sido considerada uma solução promissora onde largura de faixa, alta resolução e medição em tempo real são requeridas visando ao propósito de imediato reconhecimento de uma ameaça ou ao posterior emprego para atividades de inteligência de interesse da Defesa Nacional, utilizando-se da análise e controle do espectro eletromagnético. Sistemas de medição de frequência de micro-ondas, no mesmo domínio, também oferecem outras vantagens, tais como: baixas perdas, peso e tamanho reduzidos e imunidade a interferências eletromagnéticas no cenário. O emprego de sistemas para medição de frequência instantânea de micro-ondas torna-se bastante atrativo diante das restrições impostas pelos receptores convencionais. Segue-se uma apresentação de fundamentos, incluindo características quânticas de parâmetros do laser semicondutor e fotodetectores, teoria de modulação eletroóptica, destacando-se o modulador de intensidade tipo Mach-Zehnder, bem como conceitos básicos de fibras PM. Na simulação, revelaram-se medições de frequência independentes da potência óptica de entrada e do índice de modulação do sinal de micro-ondas obtidas por meio dos acessos construtivo e destrutivo de um interferômetro de polarização (Polarization Domain Interferometer). Por último, são tecidas conclusões acerca dos resultados obtidos e apresentadas sugestões para trabalhos futuros na linha de pesquisa de IFM.