L'analyse temporelle basée sur corners (CTA) devient de plus en plus pessimiste ainsi avec la diminution de la taille des transistors, ce qui explique la nécessité de se tourner vers l'analyse temporelle statique statistique (SSTA). Cependant, cette nouvelle génération d'analyse temporelle n'a pas été largement adoptée dans l'industrie en raison de diverses faiblesses. La méthode SSTA basée sur les chemins de données, proposée dans cette thèse, calcule les distributions des délais de chemins en propageant itérativement la moyenne et la variance des délais des cellules avec l'aide des moments conditionnels. Ces moments, conditionnés sur la pente d'entrée et la charge de sortie, sont stockés dans une librairie temporelle statistique. Cette procédure est aussi rapide que les méthodes paramétriques, tout en ne perdant pas trop de précision par rapport aux simulations de Monte Carlo, ce qui répond à l'objectif de notre recherche. L'autre contribution de cette thèse est l'amélioration des techniques de caractérisation temporelle. Pour cela, nous utilisons des signaux d'entrée basés sur des distributions log-logistique et des inverseurs comme charge de sortie pour capturer les variations de pente et de charge. De plus, le temps CPU pour la caractérisation temporelle pourrait être amélioré par la technique de réduction des dimensions, qui devrait être validée dans un avenir proche. En ce qui concerne les applications, notre procédure SSTA, donne des gains en délais important par rapport à la méthode CTA. La différence d'ordres sur les chemins critiques obtenus respectivement par les méthodes SSTA et CTA est aussi expliquée dans cette partie. Pour terminer, une étude sur les corrélations entre cellules est exposée.