Conselho Nacional de Desenvolvimento CientÃfico e TecnolÃgico / Uma parcela significativa da pesquisa cientÃfica hodierna baseia-se na sÃntese, caracterizaÃÃo ou aplicaÃÃo de materiais nanoestruturados. No intuito de possibilitar um maior entendimento das intrigantes propriedades destes materiais, muitas tÃcnicas com resoluÃÃo nanomÃtrica e atà subnanomÃtrica foram criadas nos Ãltimos 50 anos e tÃm passado por um processo de contÃnuo aprimoramento. Apesar do grande desenvolvimento tÃcnico e cientÃfico da instrumentaÃÃo disponÃvel, a caracterizaÃÃo Ãtica com resoluÃÃo nanomÃtrica destes materiais tem se mostrado um desafio para pesquisadores do mundo inteiro. Nesse contexto, as tÃcnicas baseadas em radiaÃÃo de campo prÃximo tÃm despontado como uma boa alternativa para quebra do limite de difraÃÃo, que constitui um limite natural para os instrumentos Ãticos convencionais. AlÃm disso, a microscopia de campo prÃximo em modo de iluminaÃÃo e contato adquire simultaneamente informaÃÃes Ãticas e topogrÃficas do material, o que permite fazer uma distinÃÃo entre as propriedades Ãticas nanomÃtricas reais e as induzidas por topografia. O fenÃmeno de domÃnios cristalogrÃficos tem sido um assunto de interesse da cristalografia desde que ela comeÃou a se desenvolver como ciÃncia. As razÃes Ãbvias para isso sÃo a beleza de formas externas de algumas estruturas de domÃnios, assim como as evidentes e desafiantes relaÃÃes de simetria entre os seus constituintes. Os domÃnios ferroelÃsticos sÃo um dos importantes tipos de domÃnios apresentados por cristais. Tais domÃnios apresentam, algumas vezes, dimensÃes muito reduzidas sem manifestar uma considerÃvel alteraÃÃo na estrutura topogrÃfica da amostra. Por outro lado, o comportamento Ãtico de domÃnios distintos pode ser bem diferente quando sujeitos a uma mesma condiÃÃo de medida. Tais caracterÃsticas tornam esta classe de materiais ideais para um estudo baseado na microscopia de campo prÃximo em modo de iluminaÃÃo e contato. Imagens de domÃnios ferroelÃsticos, utilizando microscopia de campo prÃximo em modo de iluminaÃÃo e contato, foram obtidas com resoluÃÃo nanomÃtrica. Tais imagens, em geral, apresentaram pouquÃssima relaÃÃo com a estrutura topogrÃfica do material, revelando importantes caracterÃsticas Ãticas (ocorrÃncia do efeito de guias de onda nos domÃnios) e estruturais (dimensÃes dos domÃnios ferroelÃsticos, presenÃa de defeitos de deslocamento na rede cristalina). / A significant part of the nowadays scientific research is based on the synthesis, characterization and application of the nanostructured materials. In order to make possible a further understanding of the intriguing properties of these materials, many techniques with nanometric and even subnanometric resolution have been created during the last 50 years and are passing through a process of continuous improvement. In spite of the great scientific and technical development on the available instrumentation, the optical characterization with nanometric resolution of these materials remains a challenge for researchers from all over the world. In this context, techniques based on near field radiation have emerged as a great alternative for the diffraction limit break which is a nature imposed limit for conventional optical instruments. Besides this, contact near field microscopy in illumination mode acquires optical and topographical information of the material simultaneously. This capability permits the distinction between the real and topographic induced nanometric optical features. The domain phenomenon in crystals has been a subject of interest for crystallographers since crystallography started to develop as a scientific branch. The obvious reasons are the beauty of some domain patterns as well as evident and challenging symmetry relations between their constituents. The ferroelastic domains are one of the important kinds of domains presented by crystals. They have, sometimes, very small dimensions without inducing any topographic element on the sample. On the other side the optical behavior of different domains under almost the same measurement condition may be very dissimilar. Such characteristics make then an ideal class of materials for contact near field microscopy in illumination mode based studies. Ferroelastic domains images, using near-field optical microscopy in illumination and contact mode, were obtained with a nanometric resolution. Such images, in general, presented very little relation with the topographical structure of the material, revealing optical and structural features such as occurrence of the waveguide effect in the domains, domainÂs dimensions and presence of dislocations on the crystalline structure.  

DANTAS, Saulo Maia. Microscopia de campo próximo aplicada ao estudo dos domínios ferroelásticos. 2011. 116 f. Dissertação (Mestrado em Física) - Programa de Pós-Graduação em Física, Departamento de Física, Centro de Ciências, Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, 2011. / Submitted by Edvander Pires (edvanderpires@gmail.com) on 2015-10-16T20:43:18Z No. of bitstreams: 1 2011_dis_smdantas.pdf: 2227981 bytes, checksum: 19c007c3550b22fce922a346d6f4508f (MD5) / Approved for entry into archive by Edvander Pires(edvanderpires@gmail.com) on 2015-10-21T20:37:21Z (GMT) No. of bitstreams: 1 2011_dis_smdantas.pdf: 2227981 bytes, checksum: 19c007c3550b22fce922a346d6f4508f (MD5) / Made available in DSpace on 2015-10-21T20:37:21Z (GMT). No. of bitstreams: 1 2011_dis_smdantas.pdf: 2227981 bytes, checksum: 19c007c3550b22fce922a346d6f4508f (MD5) Previous issue date: 2011 / A significant part of the nowadays scientific research is based on the synthesis, characterization and application of the nanostructured materials. In order to make possible a further understanding of the intriguing properties of these materials, many techniques with nanometric and even subnanometric resolution have been created during the last 50 years and are passing through a process of continuous improvement. In spite of the great scientific and technical development on the available instrumentation, the optical characterization with nanometric resolution of these materials remains a challenge for researchers from all over the world. In this context, techniques based on near field radiation have emerged as a great alternative for the diffraction limit break which is a nature imposed limit for conventional optical instruments. Besides this, contact near field microscopy in illumination mode acquires optical and topographical information of the material simultaneously. This capability permits the distinction between the real and topographic induced nanometric optical features. The domain phenomenon in crystals has been a subject of interest for crystallographers since crystallography started to develop as a scientific branch. The obvious reasons are the beauty of some domain patterns as well as evident and challenging symmetry relations between their constituents. The ferroelastic domains are one of the important kinds of domains presented by crystals. They have, sometimes, very small dimensions without inducing any topographic element on the sample. On the other side the optical behavior of different domains under almost the same measurement condition may be very dissimilar. Such characteristics make then an ideal class of materials for contact near field microscopy in illumination mode based studies. Ferroelastic domains images, using near-field optical microscopy in illumination and contact mode, were obtained with a nanometric resolution. Such images, in general, presented very little relation with the topographical structure of the material, revealing optical and structural features such as occurrence of the waveguide effect in the domains, domain´s dimensions and presence of dislocations on the crystalline structure. / Uma parcela significativa da pesquisa científica hodierna baseia-se na síntese, caracterização ou aplicação de materiais nanoestruturados. No intuito de possibilitar um maior entendimento das intrigantes propriedades destes materiais, muitas técnicas com resolução nanométrica e até subnanométrica foram criadas nos últimos 50 anos e têm passado por um processo de contínuo aprimoramento. Apesar do grande desenvolvimento técnico e científico da instrumentação disponível, a caracterização ótica com resolução nanométrica destes materiais tem se mostrado um desafio para pesquisadores do mundo inteiro. Nesse contexto, as técnicas baseadas em radiação de campo próximo têm despontado como uma boa alternativa para quebra do limite de difração, que constitui um limite natural para os instrumentos óticos convencionais. Além disso, a microscopia de campo próximo em modo de iluminação e contato adquire simultaneamente informações óticas e topográficas do material, o que permite fazer uma distinção entre as propriedades óticas nanométricas reais e as induzidas por topografia. O fenômeno de domínios cristalográficos tem sido um assunto de interesse da cristalografia desde que ela começou a se desenvolver como ciência. As razões óbvias para isso são a beleza de formas externas de algumas estruturas de domínios, assim como as evidentes e desafiantes relações de simetria entre os seus constituintes. Os domínios ferroelásticos são um dos importantes tipos de domínios apresentados por cristais. Tais domínios apresentam, algumas vezes, dimensões muito reduzidas sem manifestar uma considerável alteração na estrutura topográfica da amostra. Por outro lado, o comportamento ótico de domínios distintos pode ser bem diferente quando sujeitos a uma mesma condição de medida. Tais características tornam esta classe de materiais ideais para um estudo baseado na microscopia de campo próximo em modo de iluminação e contato. Imagens de domínios ferroelásticos, utilizando microscopia de campo próximo em modo de iluminação e contato, foram obtidas com resolução nanométrica. Tais imagens, em geral, apresentaram pouquíssima relação com a estrutura topográfica do material, revelando importantes características óticas (ocorrência do efeito de guias de onda nos domínios) e estruturais (dimensões dos domínios ferroelásticos, presença de defeitos de deslocamento na rede cristalina).