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1	Der Einfluss von Kristallfehlern auf Kossel- und Weitwinkel-Interferenzen Langer, Enrico. January 2005 (has links) (PDF) Dresden, Techn. Univ., Diss., 2005. / Computerdatei im Fernzugriff. Rasterelektronenmikroskop
2	Energiegefilterte Rückstreuelektronen-Abbildung und -Spektroskopie im Rasterelektronenmikroskop Hoffmeister, Hilmar. January 2003 (has links) (PDF) Münster (Westfalen), Universiẗat, Diss., 2003. Rasterelektronenmikroskop
3	Electron beam induced carbon nanomasking used for selective electrochemical reactions on semiconductor surfaces Djenizian, Thierry. January 1900 (has links) Erlangen, Nürnberg, University, Diss., 2002. / Dateien im PDF-Format. Rasterelektronenmikroskop
4	Der Einfluß von Kristallfehlern auf Kossel- und Weitwinkel-Interferenzen Langer, Enrico. Unknown Date (has links) (PDF) Techn. Universiẗat, Diss., 2005--Dresden.
5	Entwicklung einer neuen Präparationsmethode und Untersuchung verkieselter Mikrofossilien des Präkambriums mit Hilfe der Rasterkraft- und Elektronenmikroskopie Kempe, André Unknown Date (has links) (PDF) Universiẗat, Diss., 2003--München.
6	Entwicklung und Charakterisierung einer Elektronenstrahlanlage für das Fügen von Mikrokomponenten / Smolka, Gregor. January 2005 (has links) Techn. Hochsch., Diss., 2005--Aachen.
7	Untersuchungen von polymeren Netzwerken mit Methoden der Rasterkraftmikroskopie Schmatulla, Alexander, January 2008 (has links) Ulm, Univ., Diss., 2008.
8	3D-Bildsystem für die Nanohandhabung im Rasterelektronenmikroskop Jähnisch, Marco January 2008 (has links) Zugl.: Oldenburg, Univ., Diss., 2008
9	Werkzeuge und Methoden zur Automatisierung der seriellen Nanomontage im Rasterelektronenmikroskop Wich, Thomas January 2008 (has links) Zugl.: Oldenburg, Univ., Diss., 2008
10	Untersuchungen zum Wachstum dünner NiSi 2-x Al x - und NiSi 2-x Ga x -Schichten auf Si(001) Allenstein, Frank, January 2007 (has links) Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 2007.

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