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Técnicas de auto-teste (BIST) e auto-reparação (BISR) para memórias RAM síncronasBarroso, Alberto Rui Frutuoso January 2008 (has links)
Tese de mestrado integrado. Engenharia Electrotécnica e de Computadores - Major de Telecomunicações. Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto. 2008
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Processador dedicado para o teste em-circuito de blocos analógico-digitais em microssistemas integradosDuarte, Francisco Xavier Fernandes January 2005 (has links)
Tese de mestrado. Engenharia Electrotécnica e de Computadores (Área de especialização em Informática e Sistemas Digitais). 2005. Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto
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Apoio à depuração e teste de circuitos mistos compatíveis com a norma IEEE1149.4Felgueiras, Manuel Carlos Malheiro de Carvalho January 2008 (has links)
Tese de doutoramento. Engenharia Electrotécnica e de Computadores. Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto, Instituto Superior de Engenharia. Instituto Politécnico do Porto. 2008
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Aplicação da correlação ao teste de moduladoresDuarte, Jorge Miguel Alves Silva January 2000 (has links)
Dissertação apresentada para obtenção do grau de Mestre em Engenharia Electrotécnica e de Computadores (área de especialização em Informática Industrial), na Faculdade de Engenharia da Universidade do Porto, sob a orientação dos Professores Doutores José Alberto Ribeiro da Silva Matos e José Alberto Peixoto Machado da Silva
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