Thesis--Auburn University, 2009. / Abstract. Vita. Includes bibliographical references (p. 58-62).

Dėl didėjančio integrinių schemų sudėtingumo ir darbinių dažnių vėlinimo gedimų nustatymas tampa svarbia schemų kūrimo dalimi. Programiniai schemų prototipai leidžia atlikti schemų testavimą ankstyvojoje stadijoje. Šiame darbe yra pateikiama vėlinimo gedimų nustatymo metodų analizė ir jų palyginimas. Tyrimo objektu pasirinktas perėjimo gedimų modelis. Dokumente aprašomas AntiRandom metodo pritaikymo galimybės funkcinių testų generavimui. Taip pat yra trumpai apžvelgiami egzistuojantys sprendimai rinkoje. Projektavimo skyriuje yra aprašoma suprojektuota ir realizuota sistema, kuri susideda iš dviejų posistemių: funkcinių testų generatoriaus bei rezultatų kaupimo ir analizės posistemės. Funkcinių testų generatoriuje realizuoti du atsitiktinio ir AntiRandom metodai. Paskutinėje dokumento dalyje yra pateiktas atliktas eksperimentinis tyrimas su realizuota sistema. Taip pat yra pateikiami eksperimentinio tyrimo metu pasiekti rezultatai bei padarytos viso darbo išvados. / The increasing complexity of integrated circuits and operating frequency led delay fault identification to become an important part of the schemes development. Software prototypes allow to start testing phase at an early stage. This work covers the delay fault detection method analysis and comparison. For the study is selected transition fault identification. The paper describes the AntiRandom method and customization possibilities for the functional test generation. There is also a brief overview of an existing solutions on the market. The design section describes the designed and implemented system which consists of two subsystems: functional tests generator and results storage and analysis subsystem. Functional test generator has two random methods and customized AntiRandom method. The last part of the document covers an experimental study for the created system. It consists of results of the experiments and conclusions of the whole work.