Le travail présenté contribue au domaine du diagnostic de défauts. Dans ce travail, une méthode structurelle pour la conception des sous-systèmes testables est présentée. Elle permet de générer des relations de redondance analytiques automatiquement. Contrairement aux approches existantes, cette approche ne s'appuie pas sur un schéma de propagations ou d'éliminations séquentiels. Le formalisme proposé ainsi que la méthode envisagée visent d'une part à étendre les possibilités des méthodes existantes et d'autre part à en diminuer la complexité. Une nouvelle approche structurelle pour le placement de capteurs en prenant en compte des spécifications de diagnosticabilité est présentée. Cette nouvelle approche permet de trouver le meilleur placement de capteurs au sens de critères de diagnosticabilité sans nécessiter la conception préalable des relations de redondance analytique. Les différents résultats sont appliqués à la conception d'un système de diagnostic pour une installation photovoltaïque.