Les technologies microélectroniques ainsi que les outils de CAO actuels permettent la conception de plus en plus rapide de circuits et systèmes intégrés très complexes. L'un des plus importants problèmes rencontrés est de gérer la complexité en terme de nombre de transistors présents dans le système à manipuler ainsi qu'en terme de diversité des composants, dans la mesure où les systèmes actuels intègrent, sur un même support de type SiP ou bien SoC, de plus en plus de blocs fonctionnels hétérogènes. Le but de cette thèse est la recherche de nouvelles techniques de test qui mettent à contribution les ressources embarquées pour le test et le contrôle des modules AMS et RF. L'idée principale est de mettre en oeuvre pour ces composantes des méthodes de test et de contrôle suffisamment simples pour que les ressources numériques embarquées puissent permettre leur implémentation à faible coût. Les techniques proposées utilisent des modèles de représentation auto-régressifs qui prennent en comptes les non linéarités spécifiques à ce type de modules. Les paramètres du modèle comportemental du système sont utilisés pour la prédiction des performances du système qui sont nécessaire pour l'élaboration de la signature de test et le contrôle de la consommation du circuit. Deux démonstrateurs ont été mis en place pour valider la technique proposée : une chaine RF conçue au sein du groupe RMS et un accéléromètre de type MMA7361L. / Analogue-mixed-signal (AMS) and Radio frequency (RF) devices are required in many applications such as communications, multimedia, and signal processing. These applications are often subject to severe area constraints. The complexity of AMS and RF cores, together with shrinking device dimensions limit accessibility to the internal nodes of the circuit. This makes the test and the control of this circuit very difficult. Ensuring high test/control quality at low cost for these AMS and RF designs has become an important challenge for test engineers. RF and AMS cores are generally incorporated in a chip including large digital components as microprocessors and memories. The main idea of this work is to develop for these components simple test and control methods which can be implemented in the embedded resources of the system at low cost. The proposed techniques use autoregressive models for the devices under test/control. These models take into account the specific nonlinearities to such devices. Only the behavioural model parameters of the system are used to predict the system performances which are necessary to develop the test signature and/or control the consumption of the circuit. This method is implemented on a dsPiC30f for testing and controlling two demonstrators: a front-end RF card, designed in RMS group of TIMA laboratory, and a MMA7361L 3 axis accelerometer.