Le test de circuits analogiques et mixtes est de plus en plus coûteux, représentant parfois jusqu'à 50% du coût total de fabrication du circuit. Les techniques de BIST (Built-In Self-Test) permettent de réduire ce coût en intégrant sur la puce les ressources nécessaires au test. Dans cette thèse, nous présentons une nouvelle technique de BIST pour les Convertisseurs Analogiques-Numériques Sigma-Delta (CAN). Cette approche combine un surcoût en surface et un temps de test très réduits. Puisque les circuits numériques sont de plus en plus petits, nous avons choisi une technique principalement numérique, ce qui est en phase avec la philosophie des convertisseurs Sigma-Delta. Comme signal de test nous utilisons un stimulus numérique qui codifie avec une grande précision un signal sinusoïdal. Le même stimulus binaire est employé pour l'analyse de la réponse, effectuée au moyen d'une régression sinusoïdale (sine-wave fitting algorithm). La réutilisation de ressources présentes dans le circuit permet de calculer le SINAD (SIgnal-to-Noise And Distortion ratio) du convertisseur de manière très efficace. Afin de valider cette technique, un prototype a été conçu et fabriqué dans une technologie CMOS 0.13 µm de STMicroelectronics. Les résultats expérimentaux confirment la capacité de notre technique à mesurer le SINAD dans un convertisseur audio de 16 bits.