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Titre de l'écran-titre (visionné le 7 août 2023) / Le réseau échelle est un élément important de la spectroscopie astronomique du fait de ses caractéristiques qui le différencient des autres réseaux de diffraction tels que sa plus grande résolution spectrale ainsi que sa plus grande dispersion angulaire. Le réseau échelle est donc très utilisé comme élément dispersif dans les spectromètres. De ce fait, il est important que le réseau soit construit avec assez de précision pour que ses performances atteignent celles attendues pour son utilisation. Mon projet porte sur le développement d'un banc de test qui permet de mesurer le pas d'un réseau afin de pouvoir s'assurer de la qualité de sa fabrication. Cette méthode utilise un interféromètre de Fizeau ainsi qu'une platine rotative. La platine rotative permet de trouver la position angulaire d'un ordre précis en configuration Littrow alors que l'interféromètre permet d'apporter des corrections dans les calculs qui permettent une plus grande précision. Ensuite, les données ont été traitées avec des méthodes de calculs à partir des mesures directes ou en passant par une optimisation qui permet d'obtenir des résultats plus précis. Ces méthodes de traitement des données se sont avérées efficaces pour calculer le pas du réseau, quoique celles avec optimisation le sont nettement plus que la méthode directe. Enfin, les corrections obtenues avec l'interféromètre ont eu peu d'impact, sauf pour la correction de l'échelle dans son axe de dispersion. / The echelle diffraction grating is a crucial component in astronomical spectroscopy because of its characteristics that differenciate it from other diffraction gratings like its greater spectral resolution and its greater angular dispersion. Echelle grating are often used as the dispersive element in spectrometers. Therefore, making sure the echelle grating's fabrication was with enough precision is important for the echelle to perform at the expected performance for its utilization. My project is about designing a testing bench to measure the grooves length of an echelle grating to characterized the precision of its fabrication. This method used a Fizeau's interferometer and a rotating plate. The rotating plate allows to find the angular position of a specific order in the Littrow configuration while the interferometer allows to perform corrections in the calculation for a better precision. Then, the data will be processed with different methods of calculation which use the measures directly or after those measures has been optimized for more precise results. Those methods appear to be efficient to calculate the grooves density but the method with optimisation is more accurate than the direct method. Finally, the corrections done with the interferometer didn't yield a great impact on the result except for the correction of the echelle in the axis of dispersion.

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A description of the apparatus used in microwave phase and diffraction measurements is contained in the first chapter of this thesis. The field was investigated by a phase technique and the point source of radiation reasonably well established. Several diffraction patterns about a dielectric and a conducting rod were taken at several distances behind the rod with E vector of the field parallel to the axis of the rod. These were qualitatively analysed and compared with the patterns of one other worker at 1.25 cm. Agreements and differences were noted. / Thesis / Master of Science (MS)

Ce travail est consacré à la synthèse et à la caractérisation de composés chalcogénures. Pour la plupart nouveaux, ces composés ont la particularité de présenter des structures complexes ou dont le désordre amène une certaine complexité. La première partie de ce manuscrit est consacré à l’étude du nouveau composé monocristallin Ba0,5Cr5Se8 et de la solution solide polycristalline BaxCr5Se8 (0,5 ≤ x ≤ 0,55). Ce composé fait partie de la famille des pseudo-hollandites. Sa structure cristalline a été déterminée par diffraction des rayons X sur monocristal, un abaissement de la symétrie est observé par rapport aux pseudo-hollandites usuelles. Ces composés sont antiferromagnétiques avec une température de transition unique à 58 K, la structure magnétique du composé a été déterminée par diffraction des neutrons sur échantillon polycristallin, et sa maille magnétique correspond à une maille cristalline doublée selon b et c. Les propriétés thermoélectriques des composés sont étudiées, Ba0.5Cr5Se8 présente une ZT de 0,12 à 800 K. La deuxième partie s’est d’abord focalisée sur une structure similaire à la précédente, TlIn5Se8. Toutefois trop résistif, les structures de deux nouveaux composés ont été étudiées : TlIn4,8Cr0,2Se8 et Tl0,98In13,12Se16,3Te2,7. Ce dernier présente sur certains sites un désordre considéré statique. Finalement, le dernier chapitre a permis de mettre en avant des composés de la famille de composé lamellaire MnPSe3, ayant la particularité de présenter une paire P2. La structure du nouveau composé In2Ge2Te6 est résolue et les propriétés thermoélectriques des composés InSiTe3, Cr2Si2Te6, Cr2Ge2Te6 et In2Ge2Te6 sont étudiées. Des défauts d’empilement ont été mis en lumière et expliquent l’impact sur le libre parcours moyen des phonons. L’ensemble des composés dont les propriétés thermoélectriques ont été étudiées présentent des conductivités thermiques faibles, bien en deçà du W.m-1.K-1 dans de nombreux cas. Des ZTs de 0,18 à 673 K et 0,43 à 773 K sont trouvées pour In2Ge2Te6 et Cr2Ge2Te6. / This work has been focused on synthetizing and characterising chalcogenide compounds. Most new, those compounds show complex structures or where disorder bring complexity. The first part of this manuscript is dedicated to the study of the new single-cristalline Ba0.5Cr5Se8 and of the related polycristalline solid-solution BaxCr5Se8 (0.5 ≤ x ≤ 0.55). This compound is part of the pseudo-hollandite family. Its cristalline structure has been resolved by means of single-crystal X-ray diffraction, a lowering of symetryis observed compared to usual pseudo-hollandites. All antiferromagnetic, the compounds exhibit a transition at 58 K, the magnetic structure has been resolved using neutron diffraction on polycrystal and is twice the cristalline one along b and c. Thermoelectric properties of the compounds have been studied and a maximum ZT of 0.12 is observed at 800 K for Ba0.5Cr5Se8. The second section has first focused on a similar structure to the previous one, TlIn5Se8. Although too resistive to be interesting, two new compounds have been studied: TlIn4.8Cr0.2Se8 and Tl0.98In13.12Se16.3Te2.7. The latter quaternary exhibits static disorder on specific crystallographic sites. The last chapter highlights compounds from the lamellar compound MnPSe3 family, with the particularity to possess P2 pairs. The structure of the new In2Ge2Te6 has been resolved and thermoelectric properties of the InSiTe3, Cr2Si2Te6, Cr2Ge2Te6 and In2Ge2Te6 have been studied. Stacking faults were observed in In2Ge2Te6 and explain the impact on the phonon mean free path. All the compounds whose thermoelectric properties have been studied exhibit low thermal conductivity, below 1 W.m-1.K-1 for most of them. ZTs of 0.18 at 673 K and 0.43 at 773 K were found for In2Ge2Te6 and Cr2Ge2Te6.