CoordenaÃÃo de AperfeiÃoamento de Pessoal de NÃvel Superior / Conselho Nacional de Desenvolvimento CientÃfico e TecnolÃgico / Neste trabalho à apresentada a investigaÃÃo do processo de deposiÃÃo voltamÃtrica do telureto de cÃdmio sobre substrato de platina em meio Ãcido sulfÃrico a temperatura ambiente (24ÂC). Para este efeito, recorreu-se a tÃcnica de voltametria de varredura linear de potencial, a fim de estabelecer os valores de potencial de deposiÃÃo. Os potenciais de deposiÃÃo variaram entre -167 e -444mV. Os dados extraÃdos dos ensaios sugerem que etapas quÃmicas e eletroquÃmicas estÃo envolvidas no processo. A formaÃÃo de pico catÃdico com a subseqÃente formaÃÃo de patamar de corrente aponta a existÃncia de controle misto na deposiÃÃo do CdTe; enquanto o pico anÃdico indica que a dissoluÃÃo do material à completa. O filme depositado apresenta cor cinza escura e a tonalidade varia com o potencial de deposiÃÃo. Os filmes foram caracterizados por microscopia eletrÃnica de varredura (MEV) e difraÃÃo de raios-X (DRX). Foi verificado que os filmes depositados nos diferentes potenciais apresentam aspectos morfolÃgicos semelhantes, em forma de grÃos, uniformes e compactos. O tamanho dos cristalitos à influenciado pelo potencial de deposiÃÃo. Os difratogramas dos filmes depositados mostraram picos de difraÃÃo associados aos planos (200), (220), (311), (421) e (422). / This work presents the investigation on the voltammetrc deposition of cadmium telluride (CdTe) onto platinum substrate from sulfuric acid-based electrolyte, at room temperature (24 ÂC). For this purpose, the linear sweep voltammetry technique was used in order to establish the values of deposition potential (-167 up to -444mV). The data extracted from the voltammetric essays suggest that different chemical and electrochemical steps are involved. The formation of cathodic peak with subsequent formation of the current plateau indicates the existence of mixed control of the CdTe deposition, while the anodic peak points out that the anodic dissolution of the material is complete. The deposited film presents dark gray color and its tonality depends on the potential. The films were characterized by scanning electron microscopy (SEM) and X-rays diffraction (XRD) techniques. It was found that the films deposited at different potentials have similar morphology, as like grains, are uniform and compact. The crystallite size is influenced by the potential. The XRD patterns of deposited films show peaks associated with the (200), (220), (311), (421) and (422) planes.