<p>Antalet kretskort som monteras i multikortssystem, till exempel telekommunikationssystem, ökar ständigt. Samtidigt som ytmonteringstekniken och packningstekniken blir allt bättre utvecklas även tillverkningsmetoderna för olika integrerade komponenter, vilket medför att varje kretskort rymmer allt fler integrerade komponenter. Detta gör att testning av integrerade komponenter och multikortsystem blir alltmer komplex. En förutsättning för att kunna genomföra effektiv testning är standarder. Standarder över hur testning ska genomföras medför att en komponent som uppfyller kraven från en standard är direkt utbytbar mot en komponent från en annan tillverkare som uppfyller kraven från samma standard. En god standard bidrar även till att utvecklingen drivs åt samma håll istället för att varje tillverkare har sin egen lösning och ett eget gränssnitt, vilket dessutom leder till att ett antal olika gränssnittsomvandlare behövs för att koppla samman olika komponenter. Internal Joint Test Action Group (IJTAG) arbetar just nu med att ta fram en standard för inbäddade testinstrument på mikronivå. De inbäddade instrumenten kan stödja karaktärisering av komponenter likväl som strukturell och funktionell testning. På makronivå arbetar System Joint Test Action Group (SJTAG) med att ta fram en standard för testadministration. Den främsta uppgiften är att koppla samman IJTAG-standarden med systemtestadministrationen. Behovet av ett kommunikationsprotokoll mellan dessa båda är stort. I denna rapport utvärderas Standard Test and Programming Language (STAPL) i syfte att se hur det passar som länk mellan testmanager och inbäddade instrument. Vidare identifieras ett antal brister i STAPL och ett förslag på en vidareutveckling av språket tas fram. Denna vidareutveckling syftar till att göra språket mer dynamiskt och passande för inbäddad testning via Boundary-Scan-protokollet. Slutligen implementeras en demonstrator som består av mjukvara som exekveras på en PC och en Field Programmable Gate Array (FPGA) som tjänar som testobjekt.</p>

Antalet kretskort som monteras i multikortssystem, till exempel telekommunikationssystem, ökar ständigt. Samtidigt som ytmonteringstekniken och packningstekniken blir allt bättre utvecklas även tillverkningsmetoderna för olika integrerade komponenter, vilket medför att varje kretskort rymmer allt fler integrerade komponenter. Detta gör att testning av integrerade komponenter och multikortsystem blir alltmer komplex. En förutsättning för att kunna genomföra effektiv testning är standarder. Standarder över hur testning ska genomföras medför att en komponent som uppfyller kraven från en standard är direkt utbytbar mot en komponent från en annan tillverkare som uppfyller kraven från samma standard. En god standard bidrar även till att utvecklingen drivs åt samma håll istället för att varje tillverkare har sin egen lösning och ett eget gränssnitt, vilket dessutom leder till att ett antal olika gränssnittsomvandlare behövs för att koppla samman olika komponenter. Internal Joint Test Action Group (IJTAG) arbetar just nu med att ta fram en standard för inbäddade testinstrument på mikronivå. De inbäddade instrumenten kan stödja karaktärisering av komponenter likväl som strukturell och funktionell testning. På makronivå arbetar System Joint Test Action Group (SJTAG) med att ta fram en standard för testadministration. Den främsta uppgiften är att koppla samman IJTAG-standarden med systemtestadministrationen. Behovet av ett kommunikationsprotokoll mellan dessa båda är stort. I denna rapport utvärderas Standard Test and Programming Language (STAPL) i syfte att se hur det passar som länk mellan testmanager och inbäddade instrument. Vidare identifieras ett antal brister i STAPL och ett förslag på en vidareutveckling av språket tas fram. Denna vidareutveckling syftar till att göra språket mer dynamiskt och passande för inbäddad testning via Boundary-Scan-protokollet. Slutligen implementeras en demonstrator som består av mjukvara som exekveras på en PC och en Field Programmable Gate Array (FPGA) som tjänar som testobjekt.