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Defektcharakterisierung in Halbleiterschichten mit Hilfe der PositronenannihilationBörner, Frank. January 2000 (has links) (PDF)
Halle, Univ, Diss., 2000.
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Mechanismen der Grenzflächenausbildung des Cu(In,Ga)Se2-SystemsSchulmeyer, Thomas. January 2005 (has links) (PDF)
Darmstadt, Techn. Univ., Diss., 2005.
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