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TEM-Untersuchungen an SilicidschichtenSchubert, Andreas 01 December 2005 (has links) (PDF)
In dieser Arbeit wurden Ni-Si-Ga-Schichten mit Hilfe der Transmissionselektronenmikroskopie charakterisiert.
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TEM-Untersuchungen an SilicidschichtenSchubert, Andreas 11 October 2005 (has links)
In dieser Arbeit wurden Ni-Si-Ga-Schichten mit Hilfe der Transmissionselektronenmikroskopie charakterisiert.
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