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Spelling suggestions: "subject:"outer dde test"" "subject:"outer dee test""

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Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques

Sadier, Sylvain 07 December 1983 (has links) (PDF)
Après avoir situé le problème du test des circuits intégrés, une méthode de test phasée sur une description fonctionnelle du circuit est décrite. le système de test développé en collaboration avec ESD est présente ainsi qu'un outil de description de signaux.
test
méthode de test
outil de test
microprocesseurs
circuits périphériques
automates
niveau de description
graphe

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