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Komplexe Röntgendiffraktometrie an DünnschichtsystemenMildner, Marcus, January 2005 (has links)
Chemnitz, Techn. Univ., Diplomarb., 2005.
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Orts- und zeitabhängige Analyse von Eigenspannungen in VerbundgussWasmuth, Uwe January 2009 (has links)
Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 2009
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Komplexe Röntgendiffraktometrie an DünnschichtsystemenMildner, Marcus 18 April 2005 (has links) (PDF)
Ziel dieser Arbeit war es, die in der Professur Oberflächen- und Grenzflächenphysik
hergestellten Schichtsysteme strukturell zu charakterisieren. Mit Hilfe der
Röntgendiffraktometrie (XRD) ist es möglich, die Phasen und die Orientierung der
aufgewachsenen Schicht zu bestimmen. Mit einem weiteren Verfahren, der
Röntgenreflektometrie (XRR), lassen sich Aussagen über die Schichtqualität treffen. Durch
die Kombination dieser Methoden erhält man detaillierte Auskünfte über die Proben.
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Röntgendiffraktometrische Ermittlung tiefenabhängiger Eigenspannungsverteilungen in Dünnschichtsystemen mit komplexem AufbauKlaus, Manuela January 2009 (has links)
Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 2009
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Zum Einfluss von Last- und Eigenspannungen auf die Ergebnisse instrumentierter EindringhärteprüfungenGibmeier, Jens January 2004 (has links)
Zugl.: Kassel, Univ., Diss., 2004 / Download lizenzpflichtig
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Über die Anwendung singulärer Integralgleichungen zur Untersuchung des Spannungszustandes in rissbehafteten diskontinuierlich inhomogenen Kontinua unter thermomechanischer Belastung /Meiners, Wolfgang. January 1994 (has links)
Universiẗat, Diss.--Paderborn, 1994.
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Effiziente Simulation von Schlagschädigungen in Faserverbund-Sandwichstrukturen /Kärger, Luise. January 2007 (has links)
Techn. Universiẗat, Diss., 2007--Braunschweig.
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Zum Einfluss von Last- und Eigenspannungen auf die Ergebnisse instrumentierter EindringhärteprüfungenGibmeier, Jens. January 2005 (has links)
Universiẗat, Diss., 2004--Kassel. / Download lizenzpflichtig.
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Residual stress analysis of components with real geometries using the incremental hole drilling technique and a differential evaluation methodGarcia Sobolevski, Enrique January 2007 (has links)
Zugl.: Kassel, Univ., Diss., 2007 / Download lizenzpflichtig
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Entwicklung einer Methodik zur Erfassung randschichtnaher Eigenspannungsverteilungen s(z) [sigma(z)] in polykristallinen Werkstoffen mittgels energiedispersiver Diffraktion /Denks, Ingwer Asmus. January 2008 (has links)
Zugl.: Kassel, Universiẗat, Diss., 2008.
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