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Search results
Showing 1 to 10 of 24 (0.109 seconds)Spelling suggestions: "subject:"spectrometŕtree dde massa"" "subject:"spectrometŕtree dee massa""
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Caractérisation du récepteur de l'insuline par spectrométrie de masse /Collard-Simard, Gabriel. January 2008 (has links) (PDF)
Thèse (M.Sc.)--Université Laval, 2008. / Bibliogr.: f. 75-83. Publié aussi en version électronique dans la Collection Mémoires et thèses électroniques.
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Analyses quantitatives par SIMS dans le mode secondaire négatifPhilipp, Patrick Scherrer, Hubert. January 2005 (has links) (PDF)
Thèse de doctorat : Science et ingénierie des matériaux : Vandoeuvre-les-Nancy, INPL : 2005. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr.
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Experimental investigations of negative ions /Fritioff, Karine. January 2003 (has links)
Th. doct.--Physique théorique--Göteborg (Suède)--Göteborgs université, 2003. / Bibliogr. p. 69-75.
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Carbonate phases in historical lime mortars and pozzolana concrete : implications for 14C dating /Lindroos, Alf. January 2005 (has links)
Dissertation--Åbo akademi university, 2005. / Bibliogr. p. 85-92.
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Caractérisation par spectrométrie de masse des ions secondaires des zones actives du CMOS ultime étude de la rugosité en fond du cratère et ses conséquences sur la vitesse d'érosion et sur la résolution en profondeur /Fares, Boubker Dupuy, Jean-Claude January 2005 (has links)
Thèse doctorat : Dispositifs de l'Electronique Intégrée : Villeurbanne, INSA : 2004. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr. à la fin de chaque chapitre.
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Développement de nouveaux substrats compliants pour l'hétérroepitaxie de semiconducteursBordel, Damien Grenet, Geneviève. January 2008 (has links) (PDF)
Thèse doctorat : Sciences des matériaux et des surfaces : Ecully, Ecole centrale de Lyon : 2007. / Titre provenant de l'écran-titre. 126 références.
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Développement de nouveaux substrats compliants pour l'hétérroepitaxie de semiconducteursBordel, Damien Grenet, Geneviève. January 2007 (has links) (PDF)
Thèse doctorat : Sciences des matériaux et des surfaces : Ecully, Ecole centrale de Lyon : 2007. / 126 références.
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Étude de la pulvérisation et de l'émission de la matière sous bombardement Cs+Verdeil, Christophe Scherrer, Hubert. Migeon, Henri-Noël. January 2008 (has links) (PDF)
Thèse de doctorat : Science et ingénierie des matériaux : INPL : 2008. / Titre provenant de l'écran-titre.
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Etude de la résolution en profondeur lors de l'analyse par spectrométrie de masse des ions secondaires détermination de la fonction de résolution pour le bore dans le silicium, mise au point d'une procédure de déconvolution et applications /Gautier, Brice. Dupuy, Jean-Claude January 1999 (has links)
Thèse doctorat : Dispositifs de l'Electronique Intégrée : Villeurbanne, INSA : 1997. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr. p. 222-231.
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Analyse ultime par Spectroscopie de Masses des Ions Secondaires des matériaux de la microélectronique avancée contribution à l'interprétation des profils de bore dans le silicium /Baboux, Nicolas. Dupuy, Jean-Claude January 2004 (has links)
Thèse doctorat : Dispositifs de l'Electronique Intégrée : Villeurbanne, INSA : 2001. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr. à la fin de chaque chapitre.
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