Aujourd'hui le test de fabrication de circuits intégrés au niveau wafer s'appuie sur une technologie par contact entre l'équipement de test et les circuits à tester. Cette méthode souffre de plusieurs limitations telles que l'endommagement des plots de contact lorsque plusieurs tests sont necessaires en cours de fabrication du système. Pour pallier ces limitations, nous avons exploré une alternative de test basée sur communication sans fil. Pour cela une interface de test a été développée, cette interface doit être intégrée au sein de chaque dispositif à tester. Cette solution innovante entièrement développée au cours de ma thèse permet d'une part au testeur de diffuser simultanément les données de test vers tous les dispositifs du wafer, et d'autre part à chaque dispositif de retourner ses réponses vers le testeur. Cette interface a été développée pour permettre le test d'un dispositif en cours de fabrication (tous les éléments composant le système ne sont pas présent), et optimiser le temps de test de l'ensemble d'un wafer. Plusieurs campagnes de test sur des dispositifs réels nous ont permis de valider une solution au problème de l'alimentation des dispositifs sur le wafer. Cette solution s'appuie sur une distribution des alimentations par des rails insérées sur les lignes de découpage du wafer. Enfin, un prototype de notre interface de test sans fil a été réalisé sur une plateforme reconfigurable et nous a permis de valider son fonctionnement en testant un circuit du commerce.

According to the "faster-X effect", X-linked genes and Z-linked genes evolve more quickly than autosomal genes. This theory is one of the currently intensively studied topics in evolutionary research. However, performing high quality tests is difficult because the results are influenced by several factors - the effective size of the population of the gonosome, sexual selection, the dependency of mutation rate and selection on sex, and the mechanism of dosage compensation. Conservation of genes and possible differences between rates of evolution of autosomes also play a role and not all studies take this fact into account. This study shows some of the difficulties of paired comparisons of dN/dS ratios traditionally used to test faster-X or faster-Z effects and introduces the basis of a new method of comparison of the rate of evolution (CREC) based on relative genetic distances between three species. The CREC method reduces the influence of conservation of genes on results and is more applicable for testing faster-X or faster Z effects in such species where two species without homologic gonosomes can be found for comparison. In means of the development of this method, the faster-Z effect was tested on a dataset of 9 autosomal and 13 Z-linked genes in the six-striped long-tailed lizard (Takydromus...