Cette thèse est consacrée à l'étude du comportement de processeurs digitaux face à l'un des effets induits par l'environnement radiatif : le phénomène dit SEU ou upset qui se traduit par le basculement intempestif du contenu d'un élément mémoire comme conséquence de l'ionisation produite par le passage d'une particule chargée. Les conséquences de ce phénomène dépendent de l'instant d'occurrence et de l'élément mémoire affecté et peuvent aller de la simple erreur de résultat à la perte de contrôle d'un engin spatial. Les techniques de durcissement ne pouvant pas garantir entièrement l'immunité face aux upsets des circuits candidats aux applications spatiales, des méthodes d'estimation des taux d'erreurs de ces applications par des tests sous radiation ou par injection de fautes s'avèrent nécessaires, dans le double but de choisir les circuits les moins sensibles à ces effets et d'étudier le comportement des applications de vol face aux upsets. L'objectif de cette thèse consiste en la définition d'une méthode d'injection de fautes de type upset et de son expérimentation sur différentes architectures digitales afin d'étudier ses potentialités ainsi que son efficacité. La méthode proposée se base sur l'injection d'erreurs de type upset sur une carte digitale bâtie autour du processeur cible, comme conséquence de l'activation d'un signal d'interruption asynchrone. L'exécution de la séquence de traitement de l'interruption appelée CEU dans cette thèse (Code Emulant un Upset) provoquera la modification du contenu d'un bit sélectionné aléatoirement parmi les éléments de la zone mémoire sensible aux upsets du processeur. L'implantation de cette technique a été réalisée par l'intermédiaire d'un système THESIC, testeur dédié à la qualification sous radiation de circuits intégrés. Ce système comporte deux cartes digitales (carte mère/carte fille), dont la configuration s'est révélée adaptée aux contraintes imposées par la technique d'injection de fautes proposée. L'objectif final de ces recherches a été de démontrer que le taux d'erreurs d'une application peut être prédite à partir des résultats issus d'essais d'injection d'upsets et des mesures des sensibilités des éléments mémoires du processeur considéré. La confrontation de ces prédictions avec des mesures réalisées à l'aide d'accélérateurs de particules, a permis de montrer la validité de l'approche proposée pour différents types de processeurs.