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CONTRIBUTION AU DEVELOPPEMENT DE TECHNIQUES DE STIMULATION LASER DYNAMIQUE POUR LA LOCALISATION DE DEFAUTS DANS LES CIRCUITS VLSIAmjad, Deyine 13 April 2011 (has links) (PDF)
Ce travail contribue au développement de techniques de test dynamiques par stimulation laser pour la détection de défauts dans les composants VLSI.
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