Les travaux présentés dans ce mémoire entrent dans le cadre de la réduction des coûts de production des circuits RF. En effet, la démocratisation de ces appareils pousse les industriels à chercher de nouvelles solutions afin de produire, à bas prix, ces circuits RF. Le test représentant une large partie du coût de ces produits, l'objectif de cette thèse a donc été de proposer une stratégie originale permettant d'effectuer l'analyse de signaux modulés à l'aide d'un équipement de test numérique faible coût. Tout d'abord, le manuscrit dresse un tableau général du test industriel et présente un éventail des solutions proposées dans la littérature pour réduire le coût du test des circuits RF, ainsi que des exemples d'utilisation du concept de " level-crossing ", méthode choisie pour effectuer la capture puis la reconstruction des signaux analogiques et RF. Les principes de base utilisés pour la reconstruction de signaux analogiques à partir d'informations temporelles sont ensuite abordés. L'élément clé des algorithmes de reconstruction est la détermination des instants de passage du signal par un seuil de tension prédéterminé. De cette information, il est ensuite possible de déterminer la phase, la fréquence et l'amplitude du signal observé. La suite est consacrée à l'analyse de signaux modulés. Dans un premier temps sur des modulations élémentaires, puis sur des schémas de modulations plus complexes, basés sur des cas d'étude concrets. Le travail se termine en abordant la prise en compte des non-idéalités de la chaîne d'acquisition. Il s'agit en particulier d'étudier l'impact de ces non-idéalités pour élaborer des algorithmes visant à compenser les erreurs résultantes.