<p>Sammanfattning:</p><p>De ökande testdatavolymerna som krävs för att testa moderna System-On-Chip (SOC) bidrar i hög grad till den ökande produktionskostnaden. De stora testdatavolymerna kräver stora och dyra Automatic Test Equipment-minnen (ATE-minnen). För att minska behovet av dessa minnen så har olika komprimeringsmetoder utvecklats.</p><p>Denna rapport beskriver arbetet med att implementera en given komprimeringsmetod för testdata till SOC. Den metod som används heter vector repeat och den implementeras genom skapandet av ett för ändamålet avsett dataprogrogram. För att vector repeat ska fungera effektivt så förutsätts det att in- och utgångarna på den ATE som används kan delas in i olika portar. Portarna används för att korta ner testdatats vektorer, vilket möjliggör en bättre komprimering. Resultaten av implementationen har verifierats med hjälp av experiment där testdata från en benchmark SOC använts och jämförts med okomprimerat testdata samt ytterliggare en komprimeringsmetod som heter 9C. Resultaten visar att vector repeat är en effektiv komprimeringsmetod om antalet portar är tillräckligt stort. Experiment har även genomförts som visar hur mycket komprimeringen förbättras då antalet portar som används ökas.</p><p>Dessa resultat kan användas i framtida arbeten, varav ett exempel är, där kostnaden för ökat antal portar tas i beaktande.</p> / <p>Abstract:</p><p>The increased volume of test data which is required in testing of modern System-On-Chip (SOC) are a high contributor to the increased production costs. The large volumes of test data requires large and expensive Automatic Test Equipment memories. (ATE memories). To decrease the need of these memories, different compression methods have been developed.</p><p>This report describes the work with implementing a given compression method for test data to SOC. The method which is used is called vector repeat and it is implemented through the creation of a, for the task designated, computer program.</p><p>If vector repeat should work efficiently it is assumed that the entrances and the exits on the ATE can be divided into different ports. The ports are being used to shorten the vectors of the test data, which enables a better compression. The result of the implementation has been verified through experiments where the test data from a benchmark SOC is used and compared with uncompressed data and another compression method which is called 9C. The result shows that vector repeat is an effective compression method if the number of ports is large enough. Experiments has also been done which show how much the compression is improved when the number of ports in use are increasing.</p><p>These results can be used in future works, where one example is, where the cost of the increasing number of ports is considered.</p>

Sammanfattning: De ökande testdatavolymerna som krävs för att testa moderna System-On-Chip (SOC) bidrar i hög grad till den ökande produktionskostnaden. De stora testdatavolymerna kräver stora och dyra Automatic Test Equipment-minnen (ATE-minnen). För att minska behovet av dessa minnen så har olika komprimeringsmetoder utvecklats. Denna rapport beskriver arbetet med att implementera en given komprimeringsmetod för testdata till SOC. Den metod som används heter vector repeat och den implementeras genom skapandet av ett för ändamålet avsett dataprogrogram. För att vector repeat ska fungera effektivt så förutsätts det att in- och utgångarna på den ATE som används kan delas in i olika portar. Portarna används för att korta ner testdatats vektorer, vilket möjliggör en bättre komprimering. Resultaten av implementationen har verifierats med hjälp av experiment där testdata från en benchmark SOC använts och jämförts med okomprimerat testdata samt ytterliggare en komprimeringsmetod som heter 9C. Resultaten visar att vector repeat är en effektiv komprimeringsmetod om antalet portar är tillräckligt stort. Experiment har även genomförts som visar hur mycket komprimeringen förbättras då antalet portar som används ökas. Dessa resultat kan användas i framtida arbeten, varav ett exempel är, där kostnaden för ökat antal portar tas i beaktande. / Abstract: The increased volume of test data which is required in testing of modern System-On-Chip (SOC) are a high contributor to the increased production costs. The large volumes of test data requires large and expensive Automatic Test Equipment memories. (ATE memories). To decrease the need of these memories, different compression methods have been developed. This report describes the work with implementing a given compression method for test data to SOC. The method which is used is called vector repeat and it is implemented through the creation of a, for the task designated, computer program. If vector repeat should work efficiently it is assumed that the entrances and the exits on the ATE can be divided into different ports. The ports are being used to shorten the vectors of the test data, which enables a better compression. The result of the implementation has been verified through experiments where the test data from a benchmark SOC is used and compared with uncompressed data and another compression method which is called 9C. The result shows that vector repeat is an effective compression method if the number of ports is large enough. Experiments has also been done which show how much the compression is improved when the number of ports in use are increasing. These results can be used in future works, where one example is, where the cost of the increasing number of ports is considered.