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Previous issue date: 2010-01-27 / As inova??es na fabrica??o de circuitos integrados t?m reduzido continuamente o tamanho dos componentes, permitindo um aumento na densidade l?gica de sistemas eletr?nicos complexos, denominados SoCs (Systems‐on‐a‐Chip), mas afetando tamb?m a confiabilidade destes componentes. Barramentos globais utilizados para interconex?o de componentes em um chip est?o cada vez mais sujeitos aos efeitos de crosstalk, que podem causar atrasos e picos nos sinais. Este trabalho apresenta e avalia diferentes t?cnicas para toler?ncia a falhas em redes intra‐chip, nos quais a rede ? capaz de manter o mesmo desempenho da rede original mesmo na ocorr?ncia de falhas. Quatro t?cnicas s?o apresentadas e avaliadas em termos de consumo adicional de ?rea, lat?ncia dos pacotes, consumo de pot?ncia e an?lise de defeitos residuais. Os resultados demonstram que o uso de codifica??o CRC nos enlaces ? vantajoso quando o m?nimo acr?scimo de ?rea e consumo de pot?ncia ? o principal objetivo. Entretanto, cada um dos m?todos apresentados neste trabalho tem as suas pr?prias vantagens e podem ser utilizados dependendo da aplica??o alvo.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:tede2.pucrs.br:tede/5124 |
| Date | 27 January 2010 |
| Creators | Silva, Alzemiro Henrique Lucas da |
| Contributors | Moraes, Fernando Gehm |
| Publisher | Pontif?cia Universidade Cat?lica do Rio Grande do Sul, Programa de P?s-Gradua??o em Ci?ncia da Computa??o, PUCRS, BR, Faculdade de Inform?ca |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Format | application/pdf |
| Source | reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS, instname:Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul, instacron:PUC_RS |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Relation | 1974996533081274470, 500, 600, 1946639708616176246 |
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