The growing demand for sustainable technology has led to an increased application of power electronics. As these devices are often exposed to harsh conditions, their reliability is a primary concern for both manufacturers and users. Addressing these reliability challenges involves a set of activities known as Prognostics and Health Management (PHM). In PHM, predicting the Remaining Useful Life (RUL) is crucial. This prediction relies on identifying failure precursors, which signify the presence of degradation. These precursors are then used to construct a degradation model that enables the prediction of the remaining time that the device can work before failure. The project focuses on examining a MOSFET aging dataset from the NASA PCoE dataset depository and a diode aging dataset from Fraunhofer ENAS. The prediction of the remaining useful life of devices using failure precursors has been done by applying recurrent neural network (RNN) methods. However, the prediction results from a single feature is significantly deviated from the actual values. To improve the prediction, the age of the device was proposed as an additional feature. RNNs with a similar number of weights and RNNs with the same hyperparameters are implemented and their performance is evaluated by the accuracy of prediction. The results show that all the RNN models implemented manage to capture the characteristics of the aging data. Despite its simpler structure, the vanilla RNN manages to produce a comparable result with the GRU and LSTM by simpler mechanism and less number of weights. The results also reveal that the characteristics of the data have a significant impact on the final results. / Den växande efterfrågan på hållbar teknik har lett till en ökad tillämpning av kraftelektronik. Eftersom dessa enheter ofta utsätts för tuffa förhållanden är deras tillförlitlighet ett primärt bekymmer för både tillverkare och användare. Att ta itu med dessa tillförlitlighetsutmaningar innebär en uppsättning aktiviteter som kallas Prognostics and Health Management (PHM). I PHM är det avgörande att förutsäga det återstående användbara livet (RUL). Denna förutsägelse bygger på identifiering av felprekursorer, som anger förekomsten av nedbrytning. Dessa prekursorer används sedan för att konstruera en nedbrytningsmodell som möjliggör förutsägelse av den återstående tiden som enheten kan fungera innan fel. Projektet fokuserar på att undersöka en MOSFET-åldringsdataset från NASA PCoE-datauppsättningen och en diodåldringsdataset från Fraunhofer ENAS. Förutsägelsen av den återstående livslängden för enheter som använder felprekursorer har gjorts genom att använda metoder för återkommande neurala nätverk (RNN). Förutsägelseresultatet från en enskild funktion avviker dock avsevärt från de faktiska värdena. För att förbättra förutsägelsen föreslogs enhetens ålder som en extra funktion. RNN med ett liknande antal vikter och RNN med samma hyperparametrar implementeras och deras prestanda utvärderas av förutsägelsens noggrannhet. Resultaten visar att alla implementerade RNN-modeller lyckas fånga egenskaperna hos åldrande data. Trots sin enklare struktur lyckas vanilj RNN producera ett jämförbart resultat med GRU och LSTM genom enklare mekanism och färre antal vikter. Resultaten visar också att uppgifternas egenskaper har en betydande inverkan på de slutliga resultaten.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:UPSALLA1/oai:DiVA.org:kth-343364 |
| Date | January 2023 |
| Creators | Cai, Congrui |
| Publisher | KTH, Skolan för elektroteknik och datavetenskap (EECS) |
| Source Sets | DiVA Archive at Upsalla University |
| Language | English |
| Detected Language | Swedish |
| Type | Student thesis, info:eu-repo/semantics/bachelorThesis, text |
| Format | application/pdf |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Relation | TRITA-EECS-EX ; 2023:875 |
Page generated in 0.0024 seconds