Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior / In earlier work done at the Laboratory of Magnetism and Magnetic Materials in
Santa Maria, spectroscopy measurements of electrical impedance between 100 kHz
and 1 GHz were a function of temperature in VO2 thin films along the metal insulator
transition undergone by this material. These results suggested [127] that the
Impedance Spectroscopy can be a useful tool to separate the contributions from
those intrinsic material generated by morphological characteristics.
For that such possibility could be actually realized, technological
improvements were introduced in the system deposited by Magnetron Sputtering at
Laboratory of Magnetism and Magnetic Materials as the addition of a Residual Gas
Analyzer and improvements in the heating substrate holder.
Spectroscopy measurements were performed in a wider range of frequencies
and relaxation times extracted from them were compared with the structural
characteristics of the samples obtained by X-ray diffraction and Atomic Force
Spectroscopy. / Em trabalhos anteriores realizados no Laboratório de Magnetismo e Materiais
Magnéticos em Santa Maria, medidas de espectroscopia de impedância elétrica
entre 100 kHz e 1 GHz foram realizadas em função da temperatura em filmes finos
de VO2, ao longo da transição metal isolante sofrida por este material. Estes
resultados sugeriram [127] que a Espectroscopia de Impedância pode ser uma
ferramenta útil para separar as contribuições intrínsecas do material daquelas
geradas por características morfológicas.
Para que tal possibilidade pudesse ser realmente efetivada, foram
introduzidas melhorias técnicas no sistema de deposição por Magnetron Sputtering
do Laboratório de Magnetismo e Materiais Magnéticos como a adição de um
Analisador de Gás Residual e aperfeiçoamentos no sistema de aquecimento do
porta substrato.
Foram realizadas medidas de espectroscopia numa faixa mais ampla de
freqüências e os tempos de relaxação delas extraídos. Essas medidas foram
comparadas com as características estruturais das amostras obtidos por difração de
Raios X e Espectroscopia de Força Atômica.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.ufsm.br:1/3917 |
| Date | 31 August 2010 |
| Creators | Callegari, Gustavo Luiz |
| Contributors | Schelp, Luiz Fernando, Vieira, Valdemar das Neves, Vasconcellos, Marcos Antonio Zen, Silva, Celso Arami Marques da, Oliveira, Ana Augusta Mendonça de |
| Publisher | Universidade Federal de Santa Maria, Programa de Pós-Graduação em Física, UFSM, BR, Física |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | English |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/doctoralThesis |
| Format | application/pdf |
| Source | reponame:Repositório Institucional da UFSM, instname:Universidade Federal de Santa Maria, instacron:UFSM |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Relation | 100500000006, 400, 300, 300, 300, 300, 300, 300, bf7e2825-6ccb-40bd-9835-c0f169db2f62, 448a4c9f-ce7a-47d6-832b-bdc0eae2f469, a21f99fc-28f4-47d2-b243-874bebb293af, 93882cd1-aa63-4be7-9bc8-c440c0271565, d7226b02-56e4-4982-8c8d-1bcb92abbb6d, 32b3b690-fff8-483e-86c2-58040ad3add1 |
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