Estudo da rugosidade eletronica em capacitores MOS nanometricos

Description

Orientador: Vitor Baranauskas / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação / Made available in DSpace on 2018-07-28T13:22:34Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 2000 / Doutorado

Links & Downloads

1. (Broch.)
2. LOPES, Manoel Cesar Valente. Estudo da rugosidade eletronica em capacitores MOS nanometricos. 2000. 239p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/260315>. Acesso em: 28 jul. 2018.
3. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/260315

Tags

Simulação (Computadores)

Silício - Propriedades elétricas

Filmes finos - Propriedades elétricas

Dielétricos

Transistores

Aspereza de superficie

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.unicamp.br:REPOSIP/260315
Date	28 July 2018
Creators	Lopes, Manoel Cesar Valente
Contributors	UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS, Baranauskas, Vitor, 1952-2014
Publisher	[s.n.], Universidade Estadual de Campinas. Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação
Source Sets	IBICT Brazilian ETDs
Language	Portuguese
Detected Language	Portuguese
Type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/doctoralThesis
Format	239p. : il., application/pdf
Source	reponame:Repositório Institucional da Unicamp, instname:Universidade Estadual de Campinas, instacron:UNICAMP
Rights	info:eu-repo/semantics/openAccess