X線分光における微小ピークの高感度検出法及び基礎原子過程に関する研究

Description

著者名別形の記述を修正（2022-04-21） / 京都大学 / 0048 / 新制・課程博士 / 博士(工学) / 甲第16850号 / 工博第3571号 / 新制||工||1540(附属図書館) / 29525 / 京都大学大学院工学研究科材料工学専攻 / (主査)教授 河合 潤, 教授 酒井 明, 教授 大塚 浩二 / 学位規則第4条第1項該当 / Doctor of Philosophy (Engineering) / Kyoto University / DFAM

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1. http://hdl.handle.net/2433/157581
2. 10.14989/doctor.k16850
3. 14301

Tags

X-ray fluorescence

Chemical effects

Intensity change

Energy dispersive

Wavelength dispersive

Energy resolution

Digital Signal Processor

500

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:kyoto-u.ac.jp/oai:repository.kulib.kyoto-u.ac.jp:2433/157581
Date	26 March 2012
Creators	中江, 保一
Contributors	河合, 潤, 酒井, 明, 大塚, 浩二, Nakaye, Yasukazu, ナカエ, ヤスカズ
Publisher	京都大学 (Kyoto University), Kyoto University
Source Sets	Kyoto University
Language	Japanese
Detected Language	Japanese
Type	doctoral thesis, Thesis or Dissertation
Format	application/pdf