Internal charging is the accumulation of charged particles inside a material. Thisbuild up represents a serious hazard to satellites and instruments exposed to thespace environment. The Van Allen radiation belts constitute one of the worst spaceenvironments for satellites orbiting the earth. The energy of the electrons is higherthan in any earth orbit. Previous studies have noted the risk of internal charging in alow earth orbit or in geostationary orbit.The internal charging analysis of the AMBER instrument has been performed in amedium earth orbit. To run a relevant internal charging study, a whole dedicatedmodelling chain has been conducted. The instrument has been modelled with thecomputer-aided design software EDGE. The radiation transport analysis has beenperformed with the ESA/GRAS Monte Carlo-based software. The proper internalcharging analysis has been performed with the SPIS-IC software.Depending on various factors such as materials and shielding, the AMBER instrumentpresents few risks of electrostatic discharge. A wrong use of material can represent ahuge hazard in terms of internal charging. A thick shielding can lead to a higher riskof accumulation of charges due to a lower radiation induced conductivity. / Intern uppladdning är en ansamling av laddade partiklar inuti ett material. Denutgör en allvarlig fara för satelliter och instrument som exponeras för rymdmiljön.Strålningsbältena utgör en av de värsta rymdmiljöerna för satelliter som kretsarrunt jorden i detta avseende, pga de höga elektronenergierna. Tidigare studierhar visat på risken för intern uppladdning i låg omloppsbana runt jorden eller ien geostationär bana. Analysen av intern uppladdning av AMBER-instrumentethar här utförts för en medelhög omloppsbana. För att utföra en relevant studiehar en hel särskild modellkedja genomförts. Instrumentet har modellerats medden datorstödda designen EDGE. Strålningsanalysen har utförts med programvaranESA/GRAS MonteCarlo-baserade metod. En korrekt intern laddningsanalys harutförts med SPIS-IC-programvaran. Pga olika faktorer som material och skärmninghos AMBER-instrumentet är risken för elektrostatisk urladdning låg. En felaktiganvändning av material kan dock utgöra en stor fara när det gäller intern laddning. Entjock avskärmning kan leda till en högre risk för ackumulering av laddning på grundav en lägre strålningsinducerad ledningsförmåga.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:UPSALLA1/oai:DiVA.org:kth-278508 |
| Date | January 2020 |
| Creators | Hacquart, Jeremie |
| Publisher | KTH, Skolan för elektroteknik och datavetenskap (EECS) |
| Source Sets | DiVA Archive at Upsalla University |
| Language | English |
| Detected Language | Swedish |
| Type | Student thesis, info:eu-repo/semantics/bachelorThesis, text |
| Format | application/pdf |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Relation | TRITA-EECS-EX ; 2020:115 |
Page generated in 0.0021 seconds