Rôle des états d'interface dans le fonctionnement de composants MOS : application aux structures MNOS à effet mémoire et aux transistors MOS sur silicium sur isolant.

Description

Th.--Sci. phys.--Grenoble--I.N.P.G., 1979. N°: DE 73.

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1. http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb36079853m

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Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/464862144
Date	January 1900
Creators	Gentil, Pierre,
Publisher	[S.l. : s.n.,
Source Sets	OCLC
Language	French
Detected Language	French