Técnicas de auto-teste (BIST) e auto-reparação (BISR) para memórias RAM síncronas

Description

Tese de mestrado integrado. Engenharia Electrotécnica e de Computadores - Major de Telecomunicações. Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto. 2008

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1. oai:digitool.fe.up.pt:51589
2. http://hdl.handle.net/10216/57744

Tags

Memórias

Testes de circuitos

Reparação de anomalias

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:up.pt/oai:repositorio-aberto.up.pt:10216/57744
Date	January 2008
Creators	Barroso, Alberto Rui Frutuoso
Contributors	Ferreira, João Paulo de Castro Canas, Universidade do Porto. Faculdade de Engenharia
Source Sets	Universidade do Porto
Language	Portuguese
Detected Language	Portuguese
Type	Dissertação
Format	XVI, 124 p., 30 cm, application/pdf, application/pdf, application/pdf, application/pdf
Rights	openAccess
Relation	FEUP, SDI, RiFEUP