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Proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos MEMS. / Proposition of thin films thermomechanical characterization using MEMS devices.

Um fator importante para o desenvolvimento de projetos de microssistemas é o conhecimento de propriedades termomecânicas dos materiais e a compreensão dos mecanismos de falhas. Este trabalho estuda o comportamento mecânico de microvigas atuadas termicamente e propõem um método para ser utilizado na caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos. Fabricou-se vigas de Oxinitreto de Silício em que se aplicou a microscopia Nomarski para observar a deformação e a ocorrência do fenômeno de flambagem. / An important factor to develop microsystems is knowledge of materials properties and failure mechanisms. This research studies the thermal actuated microbeam mechanical behavior and propose a method in order to characterize thermomechanical properties of thin films. Silicon Oxynitride microbeams are fabricated and Nomarski microscopy was applied to observe strain and buckling phenomenon ocurrence.

Identiferoai:union.ndltd.org:IBICT/oai:teses.usp.br:tde-12072002-131428
Date18 March 2002
CreatorsMarcelo Silva Guimarães
ContributorsAmilton Sinatora, Marcelo Nelson Paez Carreno, Luiz Otávio Saraiva Ferreira
PublisherUniversidade de São Paulo, Engenharia Mecânica, USP, BR
Source SetsIBICT Brazilian ETDs
LanguagePortuguese
Detected LanguagePortuguese
Typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis
Sourcereponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP, instname:Universidade de São Paulo, instacron:USP
Rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess

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