Der Einfluss von Kristallfehlern auf Kossel- und Weitwinkel-Interferenzen

Description

Dresden, Techn. Univ., Diss., 2005. / Computerdatei im Fernzugriff.

Links & Downloads

1. http://hsss.slub-dresden.de/pub2/dissertation/2005/mathematik_und_naturwissenschaften/1122972592603-3817/1122972592603-3817.pdf
2. http://hsss.slub-dresden.de/hsss/servlet/hsss.urlmapping.MappingServlet?id=1122972592603-3817
3. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=976479567

Tags

Rasterelektronenmikroskop

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/637468121
Date	January 2005
Creators	Langer, Enrico.
Publisher	[S.l.] : [s.n.],
Source Sets	OCLC
Language	Undetermined
Detected Language	German