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Previous issue date: 2016-09-06 / FAPEAM - Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado do Amazonas / Digital cameras became quickly the main image-capturing devices. They not only replaced the film cameras, but also enabled new applications. Among the most important technologies in the design of digital cameras is the use of CMOS image sensors instead of charge-coupled devices (CCD). CMOS technology allows the integration of capture and processing on a single chip, reducing the size, energy and costs. Despite these advantages, CMOS image sensors have an increased noise in some pixel design architectures. The noise deteriorates the image and determines the sensor sensitivity. In this thesis a technique will be developed to quantify the noise in CMOS image sensors, putting aside the main noise sources in low temperatures (cryogenic) and measuring it depending on the brightness. In general, these results are obtained (whether in image sensors or in simple devices) via dedicated commercial equipment that are extremely expensive (about R$ 260.000,00), an example of such equipment would be (E4727A -Advanced Low LoiseAnalyzer), however, this problem can be overcome, in part, using own development systems, which will be one of the objectives of this work, making it possible to analyze using existing equipment in the optical laboratory materials - OptiMa. / As câmeras digitais tornaram-se rapidamente os principais dispositivos de captura de imagem. Elas não só substituíram as câmeras de filme, mas também permitiram novas aplicações. Entre as tecnologias mais importantes no projeto de câmeras digitais está o uso de sensores de imagem CMOS ao invés de dispositivos de carga acoplada (CCD). A tecnologia CMOS permite que haja a integração de captura e processamento em um único chip, reduzindo o tamanho a energia e o custo. Apesar dessas vantagens os sensores de imagem CMOS, possuem um maior ruído em algumas arquiteturas de projeto do pixel. O ruído deteriora a imagem e determina a sensibilidade do sensor. Nesta dissertação será desenvolvida uma técnica para quantificar o ruído em sensores de imagem CMOS, separando as principais fontes de ruído através de baixas temperaturas (criogênia) e medindo em função da luminosidade.
Em geral esses resultados são obtidos (seja ele em sensores de imagem ou em simples dispositivos), através de equipamentos comerciais dedicados que são extremamente caros (R$ 260.000,00), um exemplo desses equipamentos seria (E4727A - Advanced Lota Loise Analyzer), no entanto, este problema pode ser contornado, em parte, utilizando-se sistemas de desenvolvimento próprios, que será um dos objetivos deste trabalho, tornando possível a análise através de equipamentos existentes no laboratório de óptica de materiais - OptiMa.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:http://localhost:tede/5612 |
| Date | 06 September 2016 |
| Creators | Teixeira Junior, Aldemir Silva |
| Contributors | Cotta, Eduardo Adriano, Cruz, Carlos Augusto de Moraes, Monteiro, Davies William de Lima |
| Publisher | Universidade Federal do Amazonas, Programa de Pós-graduação em Engenharia Elétrica, UFAM, Brasil, Faculdade de Tecnologia |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Format | application/pdf |
| Source | reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFAM, instname:Universidade Federal do Amazonas, instacron:UFAM |
| Rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/, info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Relation | -161377036298529205, 600, 500, -5930111888266832212 |
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