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走査プローブ顕微鏡を用いた半導体中の不純物のポテンシャル計測 / ソウサ プローブ ケンビキョウ オ モチイタ ハンドウタイチュウ ノ フジュンブツ ノ ポテンシャル ケイソク

Kyoto University (京都大学) / 0048 / 新制・課程博士 / 博士(工学) / 甲第13818号 / 工博第2922号 / 新制||工||1432(附属図書館) / 26034 / UT51-2008-C734 / 京都大学大学院工学研究科材料工学専攻 / (主査)教授 酒井 明, 教授 田中 功, 教授 中村 裕之 / 学位規則第4条第1項該当

Identiferoai:union.ndltd.org:kyoto-u.ac.jp/oai:repository.kulib.kyoto-u.ac.jp:2433/57267
Date24 March 2008
Creators小林, 賢吾
Contributors酒井, 明, 田中, 功, 中村, 裕之, Kobayashi, Kengo, コバヤシ, ケンゴ
Publisher京都大学, Kyoto University
Source SetsKyoto University
LanguageJapanese
Detected LanguageJapanese
TypeDFAM, Thesis or Dissertation
Formatapplication/pdf
Rights許諾条件により本文は2009-10-01に公開

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