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Previous issue date: 2013-04-19 / Financiadora de Estudos e Projetos / In this paper we study the reliability of systems with connected components in series and parallel. For systems in series, the device fails when the first component fails. Although in the parallel systems this happens when the last component fails. We define the distribution functions, sub-distribution functions and their respective properties. Here we present the Bayesian nonparametric estimator for the components of both systems, illustrating by examples. For both cases we performed a comparative study between the Bayesian nonparametric estimator and the Kaplan-Meier method. / Neste trabalho estudamos a con_abilidade de sistemas com componentes ligados em série e sistemas ligados em paralelo. Para sistemas em série, o dispositivo falha quando o primeiro componente falhar, já no sistema em paralelo isto acontece quando o último componente falhar. De_nimos as funções de distribuição e sub-distribuição, bem como suas propriedades. Apresentamos o estimador Bayesiano não-paramétrico para os componentes de ambos os sistemas, ilustrando através de exemplos. Além disso, para ambos os casos, realizamos um estudo comparativo entre o estimador Bayesiano não paramétrico e o estimador de Kaplan-Meier.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.ufscar.br:ufscar/4574 |
| Date | 19 April 2013 |
| Creators | Simioni, Paulo Ricardo |
| Contributors | Campos, Adriano Polpo de |
| Publisher | Universidade Federal de São Carlos, Programa de Pós-graduação em Estatística, UFSCar, BR |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | English |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Format | application/pdf |
| Source | reponame:Repositório Institucional da UFSCAR, instname:Universidade Federal de São Carlos, instacron:UFSCAR |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
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