Return to search

Implementation of low-energy PIXE at the new scattering chamber of the 350 kV implanter

In this work, a new setup for low-energy Particles Induced X-Ray emission (LE-PIXE) was developed at the third beamline of the 350 kV implanter.  First, we implemented a new X-Ray detector in the chamber. Then, we compared the method with other X-ray based techniques such as, X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDX) and high-energy PIXE . An analysis of the strengths and weakness of each technique will be given. To complete the experimental work, an important theory part is provided to introduce the main phenomena taking place during the experiments, covering from the main theory of the ionization of atoms to the cross section and attenuation principle for PIXE and RBS.  Likewise an analysis of the limitation and of the possibility of low-energy PIXE through the detection limits measured on Fluorine and Oxygen samples will be carried out. The major goal is to be able to make a new statements on low-energy PIXE method following new theoretical models and better equipment.

Identiferoai:union.ndltd.org:UPSALLA1/oai:DiVA.org:uu-388853
Date January 2019
CreatorsBoirot, Milo
PublisherUppsala universitet, Tillämpad kärnfysik
Source SetsDiVA Archive at Upsalla University
LanguageEnglish
Detected LanguageEnglish
TypeStudent thesis, info:eu-repo/semantics/bachelorThesis, text
Formatapplication/pdf
Rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
RelationFYSAST ; FYSPROJ1131

Page generated in 0.0022 seconds