Ce travail contribue au développement de techniques de test dynamiques par stimulation laser pour la détection de défauts dans les composants VLSI.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00997407 |
| Date | 13 April 2011 |
| Creators | Amjad, Deyine |
| Publisher | Université Sciences et Technologies - Bordeaux I |
| Source Sets | CCSD theses-EN-ligne, France |
| Language | fra |
| Detected Language | French |
| Type | PhD thesis |
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