Orientador: Jose J. Lunazzi / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-16T23:30:20Z (GMT). No. of bitstreams: 1
Sthel_MarceloSilva_M.pdf: 1356584 bytes, checksum: 48674fa155634798a18cb5c8b5f5d806 (MD5)
Previous issue date: 1987 / Resumo: Através da compreenção e do estudo de um campo luminoso espalhado por uma superfície rugosa, quando sobre a mesma incide luz coerente, podemos determinar um parâmetro chamado desvio médio quadrático das alturas da superfície em questão, definindo-o como a rugosidade. Obtivemos para isto um sistema mais prático com possibilidade direta de acesso de dados ao microcomputador / Abstract: The measurement of roughness as an statistical mean over the height profile of a rough surface ( R.M.S ) was achieved through the knowledge and understanding of the light field that is scattered under coherent light illumination, obtaining an improved system for the detected technique. A microcomputer can now easily perform the data processing / Mestrado / Física / Mestre em Física
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.unicamp.br:REPOSIP/278008 |
| Date | 29 September 1987 |
| Creators | Sthel, Marcelo Silva |
| Contributors | UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS, Lunazzi, Jose Joaquín, 1948-, Lunazzi, Jose Joaquim, 1948- |
| Publisher | [s.n.], Universidade Estadual de Campinas. Instituto de Física Gleb Wataghin, Programa de Pós-Graduação em Física |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Format | 66f. : il., application/pdf |
| Source | reponame:Repositório Institucional da Unicamp, instname:Universidade Estadual de Campinas, instacron:UNICAMP |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
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