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Previous issue date: 2008-12-09T00:00:00Z / Embora a resistência às tecnologias seja um problema freqüente nas empresas, as pesquisas nessa área são fragmentadas, não-cumulativas e raras na literatura. Atualmente, a resistência à Educação a Distância [EAD] é um problema significativo, embora tal tecnologia de ensino tenha elevados índices de crescimento em vários países. O objetivo desta pesquisa foi identificar e analisar as principais dimensões de resistência à EAD na Educação Corporativa [EC]. Após revisão bibliográfica de temas como EC a Distância, Resistência às Tecnologias e Teoria Unificada de Aceitação e Uso de Tecnologias [UTAUT], foi desenvolvida e testada uma estrutura teórica que visou explicar a Resistência à EAD na EC. As hipóteses iniciais desta pesquisa defenderam que tal resistência é causada por oito fatores: Auto-Eficácia, Competência em TI, Expectativa de Desempenho, Expectativa de Esforço, Influência Social, Condições Facilitadoras, Interatividade e Comunicação Interna. A partir da técnica de Modelagem de Equações Estruturais, as hipóteses iniciais foram testadas e os resultados mostraram que, na amostra pesquisada, as dimensões Auto-Eficácia e Expectativa de Desempenho influenciam direta e positivamente a Resistência à EAD na EC, e as dimensões Expectativa de Esforço, Condições Facilitadoras e Interatividade são construtos antecedentes à Expectativa de Desempenho. Tais resultados podem servir de subsídio na tomada de decisões gerenciais sobre implementação e manutenção de cursos à distância. Do ponto de vista teórico, foi criada e validada uma escala de Resistência à EAD, bem como elaborada uma estrutura teórica de Resistência à EAD na EC – a estrutura READEC. Por fim, são apresentadas sugestões para futuras pesquisas. / Although the technologies resistance is indeed an usual problem within the companies, researches in this area are fragmental, non-cumulative and rare in literature. Nowadays, the resistance to Distance Education [DE] is a significant problem, although this type of learning technology has a high level of growing in many countries. The aim of this research was to identify and analyze the main dimensions of resistance to the DE in Corporative Education [CE]. After bibliography revision of themes like Distance CE, Technologies Resistance, and Unified Theory of Acceptance and Use of Technologies [UTAUT], a theoretical structure was developed and tested which aimed to explain the Resistance to DE in CE. The initial hypotheses of this research has defended that such resistance is caused by eight factors: Self-efficacy, IT Competence, Performance Expectations, Effort Expectation, Social Influence, Facilitating Conditions, Interactivity and Internal Communication. From the Structural Equation Modeling Technique, the initial hypotheses were tested and the results have shown that, in the researched sample, the dimensions Self-efficacy and Performance Expectations has a direct and positive influence regarding DE Resistance in CE, and Effort Expectation, Facilitating Conditions and Interactivity dimensions are constructs previous to Performance Expectations. Such results can be an allowance in management decisions regarding implementation and maintenance of distance courses. By theoretical point of view a DE Resistance scale was created and validated, and also a theoretical DE resistance structure in CE elaborated – The READEC Structure. Finally, future researches suggestions are presented here.
Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:bibliotecadigital.fgv.br:10438/2526 |
Date | 09 December 2008 |
Creators | Brauer, Marcus |
Contributors | Sanchez, Otávio Próspero, Leite, Jaci Corrêa, Zwicker, Ronaldo, Marcondes, Reynaldo Cavalheiro, Escolas::EAESP, Albertin, Alberto Luiz |
Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
Language | Portuguese |
Detected Language | English |
Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/doctoralThesis |
Source | reponame:Repositório Institucional do FGV, instname:Fundação Getulio Vargas, instacron:FGV |
Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
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