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Previous issue date: 2006 / Os métodos numéricos têm sido uma alternativa muito atrativa na análise e
solução de problemas de campos eletromagnéticos. Estes são aplicados nos mais variados
tipos de problemas, envolvendo geometrias complexas, composição heterogênea de
material e diversidades de condições de fronteira. Esta pesquisa destina-se ao estudo da
modelagem de condutores finos utilizando o método numérico TLM (Transmission Line
Modeling Method) para a análise de problemas relacionados à Compatibilidade
Eletromagnética. O trabalho é dividido em três etapas. Na primeira delas, é dedicada uma
atenção à fundamentação teórica do método TLM, abordando, suas versões uni, bi e
tridimensionais. Em uma segunda etapa, são apresentados modelos, encontrados na
literatura, que tratam dos nós condutores, os quais possibilitam a modelagem de elementos
condutores finos em malhas de grande dimensão. Finalmente, são realizadas análises de
casos para validação e verificação das potencialidades do modelo de nó condutor estudado.
Os resultados de simulação obtidos são comparados com o modelo do condutor de curtocircuito,
amplamente utilizado no método TLM
Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.ufpe.br:123456789/5440 |
Date | January 2006 |
Creators | Dantas Fonseca dos Anjos, Alexandre |
Contributors | Henrique Alves de Medeiros, Luiz |
Publisher | Universidade Federal de Pernambuco |
Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
Language | Portuguese |
Detected Language | Portuguese |
Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
Source | reponame:Repositório Institucional da UFPE, instname:Universidade Federal de Pernambuco, instacron:UFPE |
Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
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