Dans un modèle de durées de vie avec des risques concurrents, les systèmes peuvent
tomber en panne dans le temps. Ces pannes sont dues à une cause parmi plusieurs
possibles et il arrive parfois que celle-ci soit inconnue. C'est alors qu'on peut faire appel
à l'algorithme EM pour calculer les estimateurs du maximum de vraisemblance. Cette
technique utilise la fonction de vraisemblance des données complètes pour trouver les
estimateurs même si les données observées sont incomplètes.
Pour les systèmes ayant leur cause de panne inconnue, on peut en prendre un
échantillon pour une inspection plus approfondie qui dévoilera les vraies causes de
panne. Cette étape peut améliorer l'estimation des probabilités de masque et des fonc-
tions de risque spécifiques aux causes de panne. Après avoir expliqué la théorie de
l'algorithme EM, le modèle des risques concurrents, ainsi que les travaux réalisés sur le
sujet, on étudie l'impact qu'a sur les estimateurs le fait de ne pas envoyer un échantillon
des systèmes masqués à un examen approfondi qui permettrait de trouver la vraie cause
de panne.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:LACETR/oai:collectionscanada.gc.ca:QQLA.2005/22894 |
| Date | 08 1900 |
| Creators | Michaud, Isabelle |
| Contributors | Duchesne, Thierry |
| Publisher | Université Laval |
| Source Sets | Library and Archives Canada ETDs Repository / Centre d'archives des thèses électroniques de Bibliothèque et Archives Canada |
| Language | French |
| Detected Language | French |
| Type | Electronic Thesis or Dissertation |
| Format | text/html, application/pdf |
| Rights | © Isabelle Michaud, 2005 |
Page generated in 0.005 seconds