Return to search

Electrical and optical characterization of InP nanowire-based photodetectors

This thesis deals with electrical and optical characterization  of p+i–n+ nanowire-based photodetectors/solar  cells. I have investigated their I-V performance and found that all of them exhibit a clear rectifying behavior with an ideality factor around 2.2 at 300K.  used Fourier transform infrared spectroscopy to extract their optical properties. From the spectrally resolved photocurrent data, I conclude that the main photocurrent is generated in the i-segment of the nanowire (NW) p-i-n junctions, with negligible  contribution from the substrate.   I also used a C-V technique to investigate the impurity/doping profiles of the NW p+-i-n+ junction.  The technique has been widely used for investigations of doping profiles in planar p-n junctions, in particular with one terminal (n or p) highly doped. To verify the accuracy of the technique, I also used a planar Schottky  sample with an already known doping profile for a test  experiment. The result is very similar to the actual data. When we used the technique to investigate the doping level in the NWs photodetectors grown on InP substrates, the results show a very high capacitance above 800pF which most likely is due to the influence of the parasitic capacitance from the insulating layer of SiO2. Thus,  a new sample design is required to investigate the  doping profiles of NWs.

Identiferoai:union.ndltd.org:UPSALLA1/oai:DiVA.org:hh-25733
Date January 2014
CreatorsDawei, Jiang
PublisherHögskolan i Halmstad, Sektionen för Informationsvetenskap, Data– och Elektroteknik (IDE)
Source SetsDiVA Archive at Upsalla University
LanguageEnglish
Detected LanguageEnglish
TypeStudent thesis, info:eu-repo/semantics/bachelorThesis, text
Formatapplication/pdf
Rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess

Page generated in 0.0018 seconds