La perspective de technologies nanométriques permet d'envisager l'avènement de processeurs constitués de centaines de coeurs de calcul. Néanmoins, l'utilisation de ces processeurs nécessitera de pallier aux problèmes de fiabilité et de variabilité inhérents à ces procédés de fabrication agressifs. Dans cette thèse, nous présentons un ensemble cohérent de techniques pour l'utilisation de processeurs multi-coeurs massivement parallèles, soumis à de forts taux de variabilité et de défaillance. Tout d' abord, la fiabilité du réseau d'interconnexion est abordée, avec la présentation de plusieurs algorithmes de routage tolérants aux fautes, sans interblocages et sans table de routage pour une meilleure scalabilité. Les différentes variantes de ces algorithmes permettent d'ajuster la complexité du réseau sur puce, en fonction des besoins en fiabilité des applications. A titre d'exemple, le plus performant des algorithmes de routage peut acheminer les paquets tant qu'il existe un chemin sans défaillance, et ce jusqu'à 40% de ressources défectueuses. Plusieurs évolutions ont également été étudiées afin d'améliorer les performances du réseau en présence d'un nombre important de fautes. Ensuite, nous proposons une technique auto-adaptative de gestion des applications parallèles, basée sur un routage tolérant aux fautes. L'affectation dynamique des tâches se base sur la recherche adaptative des noeuds de calcul, afin de diminuer la consommation énergétique de l'application en présence de variabilité. Enfin, nous présentons un modèle de simulation de haut-niveau appelé VOCIS (Versatile On-Chip Interconnect Simulator), développé pendant cette thèse. Il permet l'étude approfondie des réseaux d'interconnexion et des routages tolérants aux fautes dans des conditions complexes, afin de répondre aux contraintes propres à ce travail. Nous décrivons son architecture et ses capacités de visualisation. Finalement, nous analysons et illustrons plusieurs résultats expérimentaux originaux obtenus avec ce modèle. / The perspective of nanometric technologies foreshadows the advent of processors consisting of hundreds of computation cores. However, the exploitation of these processors will require to cope with reliability and variability issues inherent to these aggressive manufacturing processes. In this thesis, we present a coherent set of techniques for the utilization of many-cores processors subject to high defect and variability rates. First, the interconnection network reliability is addressed, with the presentation of several deadlock-free fault-tolerant routing algorithms, without routing tables for improving their scalability. The different variants of these algorithms allow for the tune-up of NoC complexity, depending on applications' reliability requirements. For example, the most performant routing algorithm is able to transmit packets as long as a fault-free path exists, with defect rates as high as 40%. Evolutions have also been studied, in order to improve the interconnect performances in the presence of a large number of faults. Second, we propose a self-adaptive technique for the management of parallel applications, based on a fault-tolerant interconnect. The dynamic tasks mapping is based on the adaptive search of computing nodes, in order to reduce the application's energy consumption in the presnece of variability. Third, we present a high-level simulation model named VOCIS (Versatile On-Chip Interconnect Simulator), developed during this thesis. The model allows in-depth study of interconnection networks and fault-tolerant routings under complex settings, in order to meet the specific constraints of this work. The architecture and visualization features are described. Finally, we analyse and illustrate original experimental results obtained with this model.
Identifer | oai:union.ndltd.org:theses.fr/2013GRENT057 |
Date | 28 October 2013 |
Creators | Chaix, Fabien |
Contributors | Grenoble, Nicolaïdis, Michael |
Source Sets | Dépôt national des thèses électroniques françaises |
Language | French |
Detected Language | French |
Type | Electronic Thesis or Dissertation, Text |
Page generated in 0.0023 seconds