Development of a traceable atomic force microscope with interferometer and compensation flexure stage /

Description

Techn. Univ., Diss.--Ilmenau, 2003. / Parallel als Online-Ausg. erschienen unter der Adresse http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=1183. Literaturverz. S. 90 - 95.

Links & Downloads

1. http://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/364182156.PDF

Tags

Rasterkraftmikroskop

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/249345271
Date	January 2003
Creators	Chen, Chao-Jung. Jäger, Gerd
Source Sets	OCLC
Language	English
Detected Language	English