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Development of a traceable atomic force microscope with interferometer and compensation flexure stage /Chen, Chao-Jung. Jäger, Gerd January 2003 (has links) (PDF)
Techn. Univ., Diss.--Ilmenau, 2003. / Parallel als Online-Ausg. erschienen unter der Adresse http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=1183. Literaturverz. S. 90 - 95.
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Development of a traceable atomic force microscope with interferometer and compensation flexure stageChen, Chao-Jung. January 2003 (has links) (PDF)
Ilmenau, Techn. University, Diss., 2003.
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Aufbau eines Tieftemperatur-RasterkraftmikroskopesTröger, Lutz January 2008 (has links)
Zugl.: Osnabrück, Univ., Diss., 2008
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Glättung von Oberflächen mittels ClustersputternGerhardt, Peter Wenzel. January 2000 (has links)
Konstanz, Univ., Diplomarb., 2000.
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Elastizitätsmessungen an lebenden Zellen mit dem RasterkraftmikroskopRotsch, Christian. Unknown Date (has links)
Universiẗat, Diss., 1999--München.
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Dynamic plowing lithography und Kraft-Abstands-Kurven Indentation als lithographische Methoden für die Modifizierung von PolymeroberflächenCappella, Brunero. Unknown Date (has links) (PDF)
Techn. Universiẗat, Diss., 2002--Berlin.
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Aligned ion implantation using scanning probesPersaud, Arun. Unknown Date (has links)
University, Diss., 2007--Frankfurt (Main). / Zsfassung in engl. und dt. Sprache.
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Elektrochemische Nanostrukturierung von Si-Oberflächen durch selektives Ritzen von isolierenden Dünnfilmen mit dem Rasterkraftmikroskop = Electrochemical nanopatterning of Si surfaces through insulating layers by atomic force microscope scratchingZhang, Yan January 2008 (has links)
Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 2008.
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Direkte Laserinterferenz-Strukturierung von Co/Pd-Multischichtsystemen mit senkrechter AnisotropieLeufke, Philipp Moritz. January 2007 (has links)
Konstanz, Univ., Diplomarb., 2007.
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Abbildung kapillarer Oberflächen mittels KraftmikroskopieMahn, Stefan. January 2009 (has links)
Chemnitz, Techn. Univ., Diplomarb., 2008.
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