Orientadores: Arnaldo Naves de Brito, Antonio Rubens Britto de Castro / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica "Gleb Wataghin" / Made available in DSpace on 2018-07-28T08:16:33Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 2001 / Resumo: No presente trabalho nós apresentamos as medidas de espectro de elétron-íon coincidência após fotoexcitação das moléculas SO2 e CS2 em tomo da borda S1s do enxofre. Um procedimento para determinação completa de todos conjuntos de íons formados é descrito. Os canais de dissociação destas moléculas são determinados e os comportamentos com a energia dos fótons são apresentados em comparação com a produção total de íons (TIY). Nós observamos uma distribuição de carga com mais alta carga no átomo excitado da molécula SO2. Na molécula CS2, similar efeito foi observado com distribuição da carga preferencialmente na forma assimétrica. Após a criação do buraco no caroço 1s, o decaimento Auger em cascata leva, em geral, à criação do estado com duplo buraco no 2p. Este último precisa ser levado em consideração para explicar os efeitos de distribuição seletiva de carga observados.
Estas medidas foram realizadas na linha de luz "Soft X-Ray Spectroscopy"-SXS no Laboratório Nacional de Luz Síncrotron-LNLS, em Campinas-Brasil / Abstract: We present the measured electron-ion coincidence spectra after photoexcitation of the SO2 and CS2 molecules around the S1s edge. A procedure for complete determination of all set of ions formed is described. The dissociation channels were determined and their behaviors with the photon energy to these molecules are presented in comparison with the Total Ion Yield (TIY). We observed a charge distribution with higher charge localized in the excitation atom for SO2 molecule. In CS2, similar effect was observed with charge distribution preferentially of asymmetric form. Auger cascade after the ls core hole creation leading to 2p double hole states need to be taken in to account to explain the observed selective charge distribution.
This measurement were performed at the Soft X-Ray Spectroscopy-SXS beamline in the "Laboratório Nacional de Luz Síncrotron"-LNLS, in Campinas - Brasil / Mestrado / Física / Mestre em Física
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.unicamp.br:REPOSIP/277371 |
| Date | 18 June 2001 |
| Creators | Cardoso, Emerson Sousa |
| Contributors | UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS, Castro, Antonio Rubens Britto de, 1940-, Brito, Arnaldo Naves de, 1962-, Iga, Ione, Cruz, Flávio Caldas da |
| Publisher | [s.n.], Universidade Estadual de Campinas. Instituto de Física Gleb Wataghin, Programa de Pós-Graduação em Física |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Format | 113p. : il., application/pdf |
| Source | reponame:Repositório Institucional da Unicamp, instname:Universidade Estadual de Campinas, instacron:UNICAMP |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
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