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TEST INTEGRE DE CIRCUITS CRYPTOGRAPHIQUES

Parce que les architectures de test classiques visent principalement à accroître la contrôlabilité et l'observabilité des données manipulées par le système matériel, elles sont identifiées comme sources potentielles de manipulations frauduleuses lorsqu'elles sont mises en oeuvre dans des systèmes traitant de sécurité numérique. Les dispositifs sécurisés demandent donc de développer des moyens de test adaptés.<br>Ce rapport de thèse présente des solutions de test pour systèmes intégrés de chiffrement en s'attachant à la fois aux tests exécutés en fin de production ou en maintenance, et aux tests effectués en cours de fonctionnement. En ce qui concerne les tests exécutés hors fonctionnement normal, l'approche préconisée s'appuie sur un autotest intégré. Il présente les avantages cumulés de limiter l'accès aux moyens de test intégrés au système, il préserve donc la sécurité des données, d'effectuer un test de qualité, il garantit donc un bon fonctionnement du système, et enfin de ne demander que très peu de ressources additionnelles.<br>Profitant des propriétés inhérentes aux algorithmes de chiffrement (diffusion, confusion, itération) et des implantations matérielles qui en découlent (architectures rebouclées), des solutions d'autotest sont proposées pour des coeurs DES et AES. Il est aussi démontré comment les réutiliser pour générer les vecteurs de test d'autres ressources matérielles du système et analyser leurs réponses.<br>Pour ce qui concerne les tests exécutés en cours de fonctionnement, l'architecture particulière des coeurs de chiffrement est à nouveau mise à profit pour de la détection de fautes en ligne basée sur de la redondance d'information ou de matériel.

Identiferoai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00361007
Date24 November 2008
CreatorsDoulcier, Marion
PublisherUniversité Montpellier II - Sciences et Techniques du Languedoc
Source SetsCCSD theses-EN-ligne, France
Languagefra
Detected LanguageFrench
TypePhD thesis

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