Les technologies nanoélectroniques récentes font que les circuits intégrés deviennent de plus en plus vulnérables aux fautes transitoires. Les erreurs engendrées sont aussi plus critiques que jamais auparavant. Cette thèse présente un nouvel avantage en terme de fiabilité des circuits asynchrones quasi-insensibles aux délais (QDI) : Leurs fortes résistances naturelles aux fautes transitoires de longue durée qui sont graves pour les circuits synchrones actuels. Une méthodologie pour évaluer comparativement les effets des fautes transitoires sur les circuits synchrones et asynchrones QDI est présentée. En outre, une méthode pour obtenir la résistance aux fautes transitoires des éléments mémorisants spécifiques aux circuits QDI (les portes de Muller) est également proposée. Enfin, des techniques de tolérance ont été étudiées pour augmenter encore la robustesse des portes de Muller aux fautes transitoires, et donc aussi la robustesse des systèmes asynchrones QDI.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00541344 |
| Date | 09 July 2010 |
| Creators | Possamai Bastos, R. |
| Source Sets | CCSD theses-EN-ligne, France |
| Language | English |
| Detected Language | French |
| Type | PhD thesis |
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