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Surface Potential Measurements of Micropatterned Self-Assembled Monolayers (SAMs) on n-Si (111) via Kelvin Probe Force Microscopy / ケルビンプローブ力顕微鏡によるSi(111)表面に形成したSAMの表面電位計測

京都大学 / 新制・課程博士 / 博士(工学) / 甲第23897号 / 工博第4984号 / 新制||工||1778(附属図書館) / 京都大学大学院工学研究科材料工学専攻 / (主査)教授 杉村 博之, 教授 山田 啓文, 教授 邑瀬 邦明 / 学位規則第4条第1項該当 / Doctor of Philosophy (Engineering) / Kyoto University / DFAM

Identiferoai:union.ndltd.org:kyoto-u.ac.jp/oai:repository.kulib.kyoto-u.ac.jp:2433/275219
Date23 March 2022
CreatorsGARCIA, MARIA CARMELA TAN
Contributorsガルシア, マリア カルメラ タン
PublisherKyoto University, 京都大学
Source SetsKyoto University
LanguageEnglish
Detected LanguageEnglish
Typedoctoral thesis, Thesis or Dissertation
Rights許諾条件により本文は2022-09-01に公開

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