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Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques

Après avoir situé le problème du test des circuits intégrés, une méthode de test phasée sur une description fonctionnelle du circuit est décrite. le système de test développé en collaboration avec ESD est présente ainsi qu'un outil de description de signaux.

Identiferoai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00307439
Date07 December 1983
CreatorsSadier, Sylvain
Source SetsCCSD theses-EN-ligne, France
LanguageFrench
Detected LanguageFrench
TypePhD thesis

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